蔡司X射线显微镜 X射线计算机断层扫描成像领域面临的两大挑战是：实现大尺寸样品和大工作距离下的高分辨率和高通量成像。蔡司推出的两款X射线显微镜凭借以下优势解决了这些挑战：系统可提供高功率的X射线源，

优异的4D/原位解决方案

蔡司Xradia 600 Versa系列能够在可控环境下进行材料3D无损微观结构表征的动态过程。凭借Xradia Versa在大工作距离下仍可保持高分辨率成像的特性，可将样品放置到样品舱室或高精度原位加载装置中进行高分辨率成像。Versa可与蔡司其它显微镜无缝集成，解决多尺度成像方面的挑战。

蔡司 Xradia 610 Versa

蔡司 Xradia 620 Versa

空间分辨率a

500 nm

500 nm

大工作距离下的高分辨率

(RaaD™)a,b(50mm工作距离下)

1.0 μm

1.0 μm

zui小可实现的体素c

(zui大放大倍率下样品的体素大小)

40 nm

40 nm

X射线源电压范围

30–160 kV

30–160 kV

X射线源zui大输出功率

25 W

25 W

Scout-and-Scan™控制系统

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Scout-and-Zoom

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垂直拼接

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XRM Python API

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✓

自动X射线滤光片转换器(AFC)

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高纵横比断层扫描(HART)

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双扫描衬度可视化系统(DSCoVer)

✓

宽场模式

0.4x

0.4x 和 4x

蔡司LabDCT衍射衬度断层扫描

选配

蔡司自动进样装置

选配

选配

原位接口套件

选配

选配

蔡司OptiRecon

选配

选配

蔡司ZEN Intellesis

选配

选配

ORS Dragonfly Pro

选配

选配